Qualitätskontrolle im Rahmen industrieller Entwicklung verlangt häufig die mikroskopische Untersuchung von Werkstoffen. Dabei spielt die Struktur der verwendeten Materialien eine wesentliche Rolle. Fehlstellen im Gefüge werden sichtbar, Korngrößen können bestimmt und vermessen werden, Inhomogenitäten im Material erkannt werden.
Qualitätssicherung soll vor allem dazu dienen, vermeidbare Kosten auszuschließen und gute und gesicherte Ergebnisse zu reproduzieren. Hierbei spielen Rationalisierung und Wirtschaftlichkeit eine wichtige Rolle. Dies bedeutet, dass das Mikroskop ein effizientes Arbeiten ermöglichen muss. Das
H 600 AM ist speziell für diese Anforderungen konzipiert zur Untersuchung ebener, polierter Anschliffe von Metallen, Metalllegierungen, Keramiken, Verbundwerkstoffen sowie zur Untersuchung von Fertigteilen zwecks Beurteilung der Oberfläche nach Ätz- und Polierverfahren.
Das Mikroskop H 600 AM für Auf- und Durchlicht kann sowohl als reines Auflichtmikroskop mit einem vollständigen Satz an entsprechenden Auflichtobjektiven eingesetzt werden als auch als Durchlichtmikroskop zur Untersuchung transparenter Werkstoffe oder pulverförmiger Materialien.
H 600 AM 50
Für Untersuchungen im Auflicht-Hellfeld
Okularpaar WF 10x/18
Achromatische EPI Objektive
EPI A 4/0,13 EPI A 10/0,30 EPI A 20/0,50 EPI A 40/0,60
H 600 AM AL/DL 50
Für Untersuchungen im Auflicht-Hellfeld, Durchlicht-Hell-feld
Okularpaar WF 10x/18
Achromatische EPI Objektive
EPI A 4/0,13 EPI A 10/0,30 EPI A 20/0,50 EPI A 40/0,60
Kondensor NA 0,9
Die Ausrüstungen sind wahlweise mit Auflichtilluminator AM oder externer Faserlichtquelle erhältlich.
Maximale Objekthöhe: 53 mm
